美国LK 高分辨率电子能量损失谱仪EELS

美国LK 高分辨率电子能量损失谱仪EELS

参考价:面议
型号: RDA-003G, RDA-004P,RVL2000
产地: 美国
品牌: 美国埃米
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HREELS

我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构,不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项,包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。


精密结构与4栅格钨光学

微型直径1.59厘米的电子枪

103度可用视角

0.5%能量分辨率

可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)

安装法兰有完整的视口和电子馈线

完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)

低噪音,高性能俄歇电子与集成锁定放大器

MCP版本的pA和nA电流水平

全范围的选择,包括低轮廓快门,CCD相机和软件,6英寸和8英寸外径法兰模型


  • 主要技术指标:

  • 能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 (当入射电子能量为7.4eV时,对应的动量分辨率约为0.002A-1)


  • 主要功能:

  • 高分辨电子能量损失谱(HREELS)可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征,是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合,能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性,可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。


南通宏腾微电子技术有限公司为您提供美国埃米美国LK 高分辨率电子能量损失谱仪EELSRDA-003G, RDA-004P,RVL2000,美国埃米RDA-003G, RDA-004P,RVL2000产地为美国,属于进口X光电子能谱仪(XPS/ESCA),除了美国LK 高分辨率电子能量损失谱仪EELS的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多X光电子能谱仪(XPS/ESCA),宏腾微电子设备客服电话400-860-5168转6134,售前、售后均可联系。

典型用户
用户单位 采购时间
中科院物理研究所 2021/01/04
售后服务
  • 产品货期: 200天
  • 培训服务: 安装调试现场免费培训

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