XNano-3D-FEIS 单倾电学样品杆 纳控XNano原位样品杆
XNano-3D-FEIS 单倾电学样品杆 纳控XNano原位样品杆
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XNano-3D-FEIS 单倾电学样品杆 纳控XNano原位样品杆

参考价：面议
型号： XNano-3D-FEIS XElectrics
产地： 浙江
品牌： 纳控
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核心参数
杭州纳控科技有限公司
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产品详情
纳控科技深耕精密运动控制技术、超低温冷冻技术，致力于为科学研究、创新研发及高端仪器、设备的制造等提供系统的技术解决方案与集成。


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XNano原位透射电子显微镜样品杆通过原创性设计，将原位加载观测动态微结构演化与三维重构有机结合，实现了透射电子显微镜应用从二维、三维到四维的突破。

系统采用自主研发特殊精密微型压电马达驱动，实现了XYZ轴三维运动与绕样品杆α方向360°旋转，以及β方向±10°倾转五个自由度的完全解耦，大幅提升纳米操纵性能及可控性。

系统配备力学、电学等多种扩展平台，配合增强的纳米操纵性能，结合动态原位实验可在线进行三维重构，实现透射电镜样品四维表征（4DTEM）。

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公司提供以下原位TEM系列产品(单/双倾)以及相关定制化服务：


  • JEOL/FEI 力学样品杆
  • JEOL/FEI 电学样品杆
  • JEOL/FEI 光电样品杆
  • JEOL/FEI 三维重构样品杆



参数如下：


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XNano原位透射电镜纳米操纵系统可广泛应用于材料科学、生物、医学、化学、物理学等多个领域，并可根据您的需求进行定制化生产。

无论是产品选型、使用指导还是售后服务，我们都将尽心尽力为您提供最优质的服务。

精微所至，洞见未来。纳控科技竭诚为广大科研工作者提供更好的产品和服务，与您一起在科研道路上前行。

欢迎广大客户沟通、交流，部分产品支持定制。




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售后服务
  • 产品货期： 120天
  • 培训服务： 安装调试现场免费培训
  • 安装调试时间： 到货后0天内
  • 电话支持响应时间： 2小时内
  • 是否提供维保合同： 是

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