| 型号： | 薄膜厚度测量光学系统 |
| 产地： | 上海 |
| 品牌： | 上海解普 |
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UV3 CMOS 紫外光谱系统， （紫外氙灯+紫外光谱仪+探头）
它结合了CMOS紫外光谱仪和氙气光源，以实现经济高效的解决方案。
CMOS紫外光谱仪
组合氙光源
来自JPN的CMOS探测器
来自美国/德国的硬件
1.集成的紫外光谱系统，它提供了一个完整的解决方案，将CMOS光谱仪与氙灯相结合，方便用户测量
2.稳定的紫外线测量，高性能氙气闪烁灯，特别是在紫外线区域，使其测量稳定
3.低成本，整个集成系统降低复杂性, 是一个完整的紫外测量方案.
UVS3系列亮点
CMOS探测器在UV紫外段性能良好
高灵敏度在紫外线区域波长范围180-500nm，200-400nm
信噪比800:1 *snr=(信号-噪声)/偏差
集成氙气光源
降低系统复杂度
具成本效益的紫外线光谱系统
支持扩展SDK，支持二次开发
SMA905光接口
完整的UVS3系统测量附件，如流通池
USB接口
用途
紫外分光光度计
紫外光谱测量
紫外光谱仪
紫外吸收光谱法
紫外吸光度，吸光度测量
透射率，透射系数测量
水质，总氮测量
吸光度计算，浓度计算
使用朗伯比尔定律，可以计算液体的浓度或者含量
蛋白质浓度测量
定量分析测量
应用举例一：膜厚测量
薄膜干涉测厚是一种非接触式测量薄膜厚度的方法。它利用光的干涉原理，通过测量干涉光的波长变化来确定薄膜的厚度。薄膜干涉色测量法:薄膜受到入射光的照射后，反射光根据薄膜的厚度和折射率的不同而产生干涉色。利用干涉色的变化可以确定薄膜的厚度。
测试步骤
软件控制氙灯关闭，采集光谱设备电子噪声
软件控制氙灯打开，用反射探头采集光谱信号，通过测量反射光的强度变化，并利用干涉公式计算薄膜的厚度
薄膜干涉测厚方法具有测量快速、高精度、非接触等优点，广泛应用于半导体制造、光学材料、涂层工艺等领域.
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