IBEX-300晶圆超快三维磁场探针台
主要特点:
■ 可以用于100~300mm晶圆 ■ 提供大的面内和垂直磁场 ■ 磁场定向和旋转的三维控制 ■ 快速扫描能力 | ■ 嵌入式传感器校准 ■ 自动测试程序 ■ MRAM和传感器参数提取软件 ■ 与标准探针卡兼容 |
上海麦科威半导体技术有限公司为您提供Wafer级超快三维磁场探针台(Hprobe)IBEX-300,HprobeIBEX-300产地为法国,属于进口信号测试系统/半导体测试机,除了Wafer级超快三维磁场探针台(Hprobe)的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多信号测试系统/半导体测试机,上海麦科威客服电话400-860-5168转6289,售前、售后均可联系。