岛津公司祝贺“2013年度北京市电子显微学研讨会”圆满召开

    由北京理化分析测试技术学会和北京电镜学会共同主办的“2013年度北京市电子显微学研讨会”于7月20日在云南腾冲顺利召开。会议旨在提高北京及周边省市电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流。会议主要内容涉及扫描电镜、透射电镜、能谱仪等仪器技术的最新进展和应用。来自相关高校、科研院所、行业检测机构和企业的150多名代表出席了本次论坛。
     北京市电镜学会理事长、电子显微和表面分析技术专家、首都师范大学郑维能教授为本次会议致辞，他希望本届论坛通过学术交流，促进北京地区电子显微和表面分析测试技术迈向更高的水平，更好地服务于本地的科学研究、经济建设和社会民生。

    高校和科研院所的代表介绍了各自在相关分析测试领域所取得的最新研究成果，而仪器厂商代表则介绍了本公司在相关分析技术和仪器开发方面的最新进展。通过热烈的交流和讨论，与会代表感到收获很大，更多地掌握了分析测试技术的发展动态，了解了新的分析测试方法，对如何解决日常工作中遇到的分析测试难题受到了启发，分析测试同行之间也增进了友谊。
                 
    岛津公司与北京理化分析测试技术学会和北京电镜学会合作历史悠久，由大型仪器部表面组的孙明先生、刘瑞岩先生和电子能谱组的朱正辉先生作为代表参加了此次聚会，分别介绍了新型激光共聚焦—原子力联用显微镜和成像型多功能XPS的技术进展，并代表公司表达了对北京分析测试界科技工作者对岛津支持的衷心感谢，以及以高性能的产品和优质的服务作为回馈的愿望。
 
全球首台128道超快速高灵敏采谱XPS — Axis Ultra DLD：
    岛津公司一直把“以科学技术向社会做贡献”作为宗旨，致力于为中国的科研工作者提供性能卓越、稳定耐用的X射线分析仪器。由岛津集团英国Kratos公司生产的成像型多功能XPS — Axis Ultra DLD，具备领先的DLD阵列检测器，可以轻松实现高分辨和高灵敏XPS分析，是唯一可以实现128道超快速高灵敏采谱的XPS，亦可实现快速平行成像，拓展多种分析功能，包括紫外光电子能谱、俄歇电子能谱、高温反应—准原位XPS分析等。Axis Ultra DLD受到全球诸多知名高校和科研机构的认可，更被NIST（National Institute of Standards and Technology，美国国家标准与技术研究院）用作发布标准XPS谱图的设备。