1st Detect新型质谱设计获美国专利

　　2013年12月10日消息 Astrotech旗下子公司1st Detect今天宣布，公司用于化学分析和检测的独特离子肼的一项关键专利已经被美国专利商标局(USPTO)批准发布。

　　1st Detect公司董事长兼首席执行官Thomas B Pickens III表示：“我们很高兴USPTO批准这项专利。这项专利允许我们无需增加仪器的体积和成本，就可以提高小型质谱仪性能，属于我们知识产权组成的重要部分。这项专利充分证实了我们的技术实力，并对1st Detect在质谱仪方面的取得的成就进行了展示与保护。”

　　该专利名为“具有非对称端盖开孔的离子肼质谱仪”（A Mass Spectrometer Ion Trap Having Asymmetric End Cap Apertures），专利编号为8,610,055，它代表的是1st Detect的一项关键技术优势，该技术能够在不增加仪器的复杂性或成本的情况下，提高微型质谱仪的灵敏度和分辨率。

　　该创新技术的发明者、1st Detect公司总裁兼首席技术官David Rafferty补充到：“这项专利技术支持我们提供最实惠、高性能的微型质谱仪用于实验室和现场应用。”（编译：刘玉兰）