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HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破

HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破
薄膜分析专家,可精确分析薄膜各种物理、光学特性,轻松获取如下信息:

● 厚度(低至1A) 
● 折射率
● 消光系数
● ……     

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HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破超高性能的仪器,是薄膜研究佳选择!
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 可测低至单原子层厚度样品
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 可测低衬度样品,如硅上氧化硅等
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 高准确性、高稳定性,实验结果真实可靠,更具信服力
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 190nm-2100nm宽光谱范围,材料研究范围更加广阔,为您的研究方向提供无限空间

HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破先进设计理念,操作更轻松,功能更强大!
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 微光斑可视系统,8个尺寸可选,复杂形貌样品精准轻松定位
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 全自动化设计,减少人为操作失误
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 操作简单,初学者也可快速掌握
HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破 强大的软件平台,完美集成数据采集与建模拟合功能,满足资深科研人员的使用要求

HORIBA Scientific新品系列(四):薄膜精准测量新突破
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● TFT-LCD
● PDP
● LED, ELD, OLED
● 柔性显示器


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● 晶体管
● 高k、低k材料
● 光刻胶
● 数据存储


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● II-VI, III-V 和硅太阳能电池
● 有机太阳能电池
● TCO



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● 石墨烯, 碳纳米管
● 纳米结构
● 有机膜


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关注我们
邮箱:
info-sci.cn@horiba.com
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来源于:法国HORIBA JobinYvon S.A.S(HORIBA Scientific)

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