iCEM 2016特邀报告：透射电镜制样技术

第二届电镜网络会议(iCEM 2016)特邀报告

透射电镜制样技术

鞠晶 高级工程师

北京大学化学学院

报告摘要：

　　介绍透射电镜中常用的几种制样技术，如超薄切片技术，离子减薄技术等等。结合电镜拍摄的具体要求介绍各种制样技术的注意事项和操作细节。

报告人简介：

　　鞠晶，北京大学化学学院分析测试中心高级工程师。

　　教育背景

　　9/1999-7/2003 Ph.D., Chemistry, Peking University, Beijing, China

　　9/1996-7/1999 M.S., Chemistry, Jilin University, Changchun, China

　　9/1992-7/1996 B.S., Chemistry, Jilin University, Changchun, China

　　职业经历

　　9/2003 – 4/2007 COE Fellow, Low Dimensional Quantum Physics Group, Department of Physics, Graduate School of Science, Tohoku University, Japan

　　5/2007-10/2009 Assistant Professor, WPI, Tohoku University, Japan

　　研究兴趣

　　涉足材料科学的多元交叉，包括无机固体材料和纳米孔道材料的设计和制备，并在其原有结构基础上进行化学修饰，探索其固体化学和固体物理方面的性质的改进，旨在更加深入地理解物质的结构与其物理性质之间的关系，进而最终设计出符合21 世纪技术要求的先进材料。

　　* 对新型过渡金属氧化物，硫属化合物，金属间化合物以及磷系化合物进行设计、合成、结构研究以及物理性质研究。

　　* 设计合成新型的超导体，磁性材料，透明电子导体，介电材料，热电材料，以及相关的具有新颖结构的电子体系。

　　* 纳米孔道材料的设计，合成，自组装和集成功能化。

　　* 在传感器，成像和药物输运方面进行新一代功能器件的创新。

报告时间：10月25日下午