第六届中国二次离子质谱会议

第六届中国二次离子质谱会议于2016年10月8至11日由中科院分离分析重点实验室在中国科学院大连化学物理研究所成功举办。

  第六届中国二次离子质谱会议是一个国际性的盛会。大会邀请到一共一百多名国内外SIMS研究人员出席了会议，当中包括上届国际SIMS大会主席、英国国家物理实验室Ian Gilmore教授，美国分析化学杂志(Analytical Chemistry)副主编、瑞典歌德堡大学Andrew Ewing教授和日本京都大学Jiro Matsuo教授等等。

会上，专家针对SIMS仪器研发、理论发展及其在不同领域的开拓应用进行了精彩的汇报 ，ULVAC-PHI分析室专门室长饭田真一先生和高德叶上远先生有幸获邀参会并在会上做了精彩的分享。叶上远先生的报告以“Analyzer Acceptance Angle & The Advent of 3D Chemical and Molecular Imaging by FIB-TOF Tomography”为主题；饭田真一先生的报告主题则是“Easy Compound Identification in TOF-SIMS By using Parallel Imaging MS/MS”。

第六届中国二次离子质谱会议会议现场

高德中国区总监叶上远正在作专业的报告

ULVAC-PHI 分析室專門室長飯田真一正在作專業的報告