我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K)。我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件
变温测量IV和VI曲线 变温场效应管(横坐标Vgs,纵坐标Ids,
不同曲线代表不同的Vds和温度)
变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids, 变温CV测试(横坐标偏压,纵坐
不同曲线代表不同的Vgs和温度) 标电容,不同曲线代表不同温度)
来源于:北京飞斯科科技有限公司
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