我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。

    我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂，漏电流优于50fA。该探针台变温范围大（8K-675K）。我司提供Keithley 4200半导体特性仪，并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件

          变温测量IV和VI曲线                     变温场效应管（横坐标Vgs，纵坐标Ids，

                                                            不同曲线代表不同的Vds和温度）

              变温场效应管（横坐标Vds，纵坐标Ids，           变温CV测试（横坐标偏压，纵坐

                     不同曲线代表不同的Vgs和温度）                  标电容，不同曲线代表不同温度）