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多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪

导读:该仪器通过采用多波段光源,在实现传统的强度调制式的同时,可以实现多波长调制,从而实现对结合分子或粒子的结构性能提供更全面的信息。该SPR成像仪器具有进行波长调制式和强度调制式两种功能模式。

成果名称

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪

单位名称

南京大学

联系人

许丹科

联系邮箱

xudanke@nju.edu.cn

成果成熟度

□正在研发   √已有样机   □通过小试   □通过中试   □可以量产

合作方式

√技术转让    □技术入股    √合作开发    □其他

成果简介:

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪

表面等离子共振成像(SPR-imaging)是一种能够进行高通量、实时、无需标记的监测生物分子相互作用的检测仪器,可通过在传感芯片表面构建蛋白质分子阵列或核酸分子芯片阵列,监测蛋白-蛋白、蛋白-核酸、核酸-核酸之间的相互作用情况。本成果研制了一种基于多波段可调式光源的表面等离子体共振成像(SPR-imaging)仪器。此仪器装置是基于Kretschmann结构原理进行搭建。仪器由光源、光路系统、进样系统、传感芯片、样品流通池、检测系统、计算机控制系统构成,实现对传感芯片表面信号变化的实时成像监测和相互作用分析的功能。光源可发射连续宽波段光束,发射光束经线性变带通滤光片滤波、准直处理,并经p/s可调偏振片作用形成P偏振状态投射到传感片表面,反射光使用光学镜头与CCD进行成像。

主要技术指标:

成像仪器分辨率能够达到3×10-6 RIU

动态范围能够达到4×10-2 RIU

空间分辨率能够达到9 nm

波长调制幅度:540.12 nm ~782.51 nm

技术特点:

该仪器通过采用多波段光源,在实现传统的强度调制式的同时,可以实现多波长调制,从而实现对结合分子或粒子的结构性能提供更全面的信息。该SPR成像仪器具有进行波长调制式和强度调制式两种功能模式。

应用前景:

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪器可用于医药生物研究领域的生物靶标筛选、药物研发及化学、环境等领域的传感材料的研发领域。

知识产权及项目获奖情况:

十面体纳米银探针在利用表面等离子体共振成像技术筛选核酸适配体中的应用. 专利申请号:201710023541.X

一种利用微阵列微流控芯片筛选适配体的方法. 专利申请号:20160894672.0

一种利用微阵列微流控芯片筛选适配体的方法. 专利申请号:PCT/CN2017/073024


来源于:仪器信息网

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成果名称

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪

单位名称

南京大学

联系人

许丹科

联系邮箱

xudanke@nju.edu.cn

成果成熟度

□正在研发   √已有样机   □通过小试   □通过中试   □可以量产

合作方式

√技术转让    □技术入股    √合作开发    □其他

成果简介:

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪

表面等离子共振成像(SPR-imaging)是一种能够进行高通量、实时、无需标记的监测生物分子相互作用的检测仪器,可通过在传感芯片表面构建蛋白质分子阵列或核酸分子芯片阵列,监测蛋白-蛋白、蛋白-核酸、核酸-核酸之间的相互作用情况。本成果研制了一种基于多波段可调式光源的表面等离子体共振成像(SPR-imaging)仪器。此仪器装置是基于Kretschmann结构原理进行搭建。仪器由光源、光路系统、进样系统、传感芯片、样品流通池、检测系统、计算机控制系统构成,实现对传感芯片表面信号变化的实时成像监测和相互作用分析的功能。光源可发射连续宽波段光束,发射光束经线性变带通滤光片滤波、准直处理,并经p/s可调偏振片作用形成P偏振状态投射到传感片表面,反射光使用光学镜头与CCD进行成像。

主要技术指标:

成像仪器分辨率能够达到3×10-6 RIU

动态范围能够达到4×10-2 RIU

空间分辨率能够达到9 nm

波长调制幅度:540.12 nm ~782.51 nm

技术特点:

该仪器通过采用多波段光源,在实现传统的强度调制式的同时,可以实现多波长调制,从而实现对结合分子或粒子的结构性能提供更全面的信息。该SPR成像仪器具有进行波长调制式和强度调制式两种功能模式。

应用前景:

多波段可调式表面等离子体共振成像(SPRi)仪器可用于医药生物研究领域的生物靶标筛选、药物研发及化学、环境等领域的传感材料的研发领域。

知识产权及项目获奖情况:

十面体纳米银探针在利用表面等离子体共振成像技术筛选核酸适配体中的应用. 专利申请号:201710023541.X

一种利用微阵列微流控芯片筛选适配体的方法. 专利申请号:20160894672.0

一种利用微阵列微流控芯片筛选适配体的方法. 专利申请号:PCT/CN2017/073024