天瑞（中国）仪器公司科学技术成果鉴定会在京胜利召开

   2008年3月21日，中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京主持召开了江苏天瑞信息技术有限公司研制生产的“便携式、智能化X射线荧光光谱仪”技术鉴定会。会议主要针对天瑞仪器最近研制出的新产品EDX-Pocket-Ⅱ召开。该仪器在2008中国科学仪器发展年会上荣获优秀新产品大奖。


   鉴定会上，委员会听取了天瑞信息技术有限公司董事长刘召贵博士所做的技术报告，并对所提供的资料进行了审核。经过充分讨论，形成以下鉴定意见：
1、该仪器的核心部件-探测器系具有自主知识产权的先进技术，保证了仪器的精度与现场分析的需要。
2、该产品设计了具有防辐射功能的屏蔽罩，使辐射剂量符合国家规定，保障使用者的安全。
3、采用蓝牙技术传输，配合人性化的测试软件，使本仪器具有操作方便、灵活的特点。
4、功耗低、重量轻、体积小，外观设计美观大方。
   鉴定委员会认为，天瑞仪器整体技术水平达到国内领先和国际同行的先进水平。




   本次鉴定委员会成员有：中国工程院院士金国藩先生、中科院电工研究所院士姚骏恩先生、中国仪器仪表学会分析仪器分会研究员闫成德先生、清华大学化学系教授邓勃先生、中科院物理研究所研究员麦振洪先生和北京市化工研究院工程师云尹洧先生。




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鉴定会现场