最新技术的ZETA电位仪已于2007年10月首发
全球惟一拥有高浓度ZETA电位测量技术，并且同时也是已知的惟一的可实现固体和薄膜表面ZETA电位测量的技术的最新型的仪器----DelsaNano已于2007年10月在北京的BCEIA上首发并亮相。
该台采用FST专利技术由美国贝克曼库尔特公司出品的zeta 电位仪及纳米粒度分析仪为颗粒特性的表征提供最新的手段，又一次为材料分析领域带来了技术突破。同时亦成为美国贝克曼库尔特公司在颗粒特性分析仪器领域始终处于领导地位的最好注脚。
欲了解更多关于最新技术的DelsaNano的相关特性及参数，请立即联系贝克曼库尔特公司颗粒特性分析部门于各地的代表处或浏览网站：www.coultercoulter.com或www.instrument.com.cn/netshow/sh100336[/size][/size]
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该台采用FST专利技术由美国贝克曼库尔特公司出品的zeta 电位仪及纳米粒度分析仪为颗粒特性的表征提供最新的手段，又一次为材料分析领域带来了技术突破。同时亦成为美国贝克曼库尔特公司在颗粒特性分析仪器领域始终处于领导地位的最好注脚。
欲了解更多关于最新技术的DelsaNano的相关特性及参数，请立即联系贝克曼库尔特公司颗粒特性分析部门于各地的代表处或浏览网站：www.coultercoulter.com或www.instrument.com.cn/netshow/sh100336[/size][/size]
screen.width-300)this.width=screen.width-300">来源于：美国贝克曼库尔特有限公司
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