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梅特勒托利多全球首场中文在线研讨会即将举行

梅特勒托利多全球首场中文在线研讨会即将举行screen.width-300)this.width=screen.width-300">
在线研讨会介绍
本次研讨会将主要介绍以下内容:
- 颗粒的基本概念、包括平均粒径等相关概念;
- 离线颗粒测量技术,在线颗粒测量技术及各自存在的优势和劣势;
- 帮助您充分了解颗粒变化对工艺过程变化产生的重要影响。

在线研讨会 日期/时间  
- 实时原位在线颗粒分析技术介绍        
  12月17日(星期一),2007年,北京时间上午10点  
- 实时原位在线颗粒分析技术介绍        
  12月17日(星期一),2007年,北京时间下午3点  


详情与注册
查看详情: http://cn.mt.com/mt/ed/webinar/CN_20071113_AC_ParticleSystem_Event-Event_1194921203198.jsp
注册参加: http://cn.mt.com/cgi-bin/mt.dll/mt/fb/viewFeedbackB.do?k=Iy_Tk4NjM1_T&c=5FVkVfVE0iVE

来源于:梅特勒-托利多中国

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在线研讨会介绍
本次研讨会将主要介绍以下内容:
- 颗粒的基本概念、包括平均粒径等相关概念;
- 离线颗粒测量技术,在线颗粒测量技术及各自存在的优势和劣势;
- 帮助您充分了解颗粒变化对工艺过程变化产生的重要影响。

在线研讨会 日期/时间  
- 实时原位在线颗粒分析技术介绍        
  12月17日(星期一),2007年,北京时间上午10点  
- 实时原位在线颗粒分析技术介绍        
  12月17日(星期一),2007年,北京时间下午3点  


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注册参加: http://cn.mt.com/cgi-bin/mt.dll/mt/fb/viewFeedbackB.do?k=Iy_Tk4NjM1_T&c=5FVkVfVE0iVE