第十三届BCEIA-北分天普参展圆满成功
北京分析测试学术报告会及展览会，是由中国分析测试协会主办，中华人民共和国科学技术部批准的专业性的分析测试仪器展览会，每两年举办一次，已经举办了二十多年，在国内外享有较高的声誉。
第十三届北京分析测试学术报告会及展览会，于2009年11月25日至28日在北京展览馆举办。展览场地面积近1.5万平方米，我公司在这次展会中成功的展出自主研发的新产品（TP—2060硫分析仪、TP—5000热解吸仪、 TP—6000自动顶空进样器、 TP—8000气相色谱仪、 TP—5100热解吸仪 、TP—6100自动顶空进样器及多种气源发生器等）受世界各地专业人士关注与好评，以下是我公司新品展示及技术工程师讲解现场，具体情况如下：
来源于：北京北分天普仪器技术有限公司
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