HORIBA动态光散射粒径分布/Zeta电位测定仪SZ-100最新型号登场！
SZ-100 是 HORIBA Scientific 新推出的纳米粒子解析装置，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。
新推出的纳米粒子解析装置 SZ-100 有以下诸多性能：
◎将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta 电位、分子量测定)的测定囊括于一身。
◎从 PPM 级的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原液状态下进行测量。
◎微小容量电泳样品池是 HORIBA Scientific 独自研发，可以测定取样调查仅100μL的 Zeta 电位。
◎适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用。
◎操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。
来源于：法国HORIBA Jobin Yvon公司
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