天美公司将参加第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会
2010年5月9-12日由中国微米纳米技术学会纳米科学技术分会主办，全国纳米技术标准化技术委员会纳米检测技术标准化工作组协办，厦门大学和国家纳米科学中心联合承办的“第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会”在福建厦门大学举行。会议将邀请国内相关领域的知名专家做大会专题报告，会议期间还将召开纳米科学技术分会第二届理事会会议。
天美（中国）科学仪器有限公司将作为赞助商参加此次研讨会，展示天美公司用于“表面及微结构”、“触摸纳米世界”表征的综合方案，为促进我国纳米科学技术交流与合作，提升我国纳米科学技术的创新能力做出自己的贡献。
时间：2010年5月9-12日
地点：福建•厦门大学
来源于：天美科技有限公司 Techcomp LTD.
热门评论
最新资讯
厂商动态
新闻专题
更多推荐
写评论…
0