导读:北京北达燕园微构分析测试中心坐落于北京大学科技园内,创建于2006年,是一个专业以XRD(X射线衍射)和XRF(X射线荧光)为分析手段的测试机构,中心于2008年通过了国家计量认证(CMA),目前有工作人员约15人。
为广泛征求用户的意见和需求,了解中国科学仪器市场的实际情况和仪器应用情况,仪器信息网自2008年6月1日开始,对不同行业有代表性的“100家实验室”进行走访参观。2010年6月10日,仪器信息网工作人员参观访问了本次活动的第三十五站:北京北达燕园微构分析测试中心。
中心的国家计量认证(CMA)
北京北达燕园微构分析测试中心(http://www.msal.net)坐落于北京大学科技园内,创建于2006年,是一个专业以XRD(X射线衍射)和XRF(X射线荧光)为分析手段的测试机构,中心于2008年通过了国家计量认证(CMA),目前有工作人员约15人。
微构分析测试中心藏品:上世纪50年代的X射线粉末德拜照相机
微构分析测试中心藏品:上世纪60年代的X射线衍射平板照相机和粉末德拜照相机
微构分析测试中心藏品:上世纪60年代的X射线粉末高温照相机和单晶回摆照相机
微构分析测试中心藏品:X射线衍射魏森堡单晶相机
该单晶照相机是上世纪60年代初北京大学化学系与中国科学院物理所等单位合作完成的我国重大科研成果“牛胰岛素2.5Å分辨率晶体结构的测定”工作中使用的关键仪器。
一走入北京北达燕园微构分析测试中心,映入眼帘的是一个X射线衍射仪器发展史的展橱,精美的橱窗中展示了各个时代的X射线衍射仪器,墙上的展板记录了历史上所有与X射线仪器有关的诺贝尔奖获得者,由此您便知该测试中心对X射线衍射技术的关注。
北京北达燕园微构分析测试中心主任江向峰热情接待了仪器信息网的到访人员,并详细介绍了中心的定位、服务及发展目标。
定位:服务科研、研发的测试机构
当谈到测试中心的定位时,江主任表示,“目前的分析测试活动主要可以分为三类:(1)强制检测项目,即国家相关法规或标准规定要进行的检验检测;(2)以企业自身产品质量控制需求为出发的测试活动;(3)以科学研究、技术开发为目的的测试活动。目前,绝大多数的第三方测试机构都属于前两种,我们中心则属于第三种。但是第三种测试活动一直都是以学校或科研院所的实验室为主体,因此以公司体制来运营,把测试活动作为一种科技服务产品提供给市场,是一种尝试,我们正在进行探索。”
“近几年,国家在进行科技条件平台建设,北京市科委开展了首都科技条件平台建设,平台建设的目的就是为科研、研发服务,正好与我们测试中心的定位是一致的。但是平台建设是政府行为,而我们要以企业为主体,通过市场来从事这样的活动,我们要走出一条有别于完全依靠国家投资建设的测试机构的道路。当然,我们也渴望得到政府的扶持。”江主任补充,“在测试中心运行的短短几年里,中心为高新技术企业的研发活动提供了很多有效、及时的专业测试服务,符合中心的质量方针:科学、公正、准确、满意。我们的客户40%以上来自高新技术企业。”
经中心升级改造的日本理学转靶X射线衍射仪
特色:实验平台搭建及实验环境租用
关于测试中心的业务种类,江主任介绍到,中心的业务主要来源于以下几个方面:(1)以X射线衍射仪为分析手段的测试业务;(2)X射线衍射仪相关实验平台的搭建;(3)以X射线衍射仪为主体的实验环境的租用。
第一项业务应该是所有第三方测试机构的主业,而我们微构测试中心的特色在于后两项业务,一可以提供租用机时的服务,有测试需求的客户,在经过简单培训之后,可以自己进行样品的测试与分析;二对于特殊需求的研发用户,我们可以为用户提供2KW至12KW功率的独立X射线光源,配套各种实验附件,为其搭建安全方便的专用实验环境。
江主任表示,“当然,这些特色服务也是基于我们拥有专业的技术,以及我们所服务客户的特殊性。高校和研究所的学生是我们的大客户群,他们的检测需求比较复杂,需要重新搭建实验平台,而我们正好有能力做这样的工作。”
当笔者问及,是否担心用户自行操作造成仪器损坏时,江主任笑答,“我们是X射线衍射仪器的研发者,即便现在使用的商用仪器也已经被我们多次改造,维修、设备升级改造是我们的强项。”
研发:专注X射线衍射仪研发并实现产业化
“北京大学科技开发部衍射仪组是我们测试中心的前身,X射线衍射仪器的研发及产业化是我们测试中心的一个重要工作。测试中心的发起人江超华教授是我国最早从事X射线分析仪器研究与制造的专家。” 江主任说到。
微构分析测试中心研发,普析通用仪器公司产业化的XD-3型高精度自动粉末衍射仪
研发中的X射线能谱岩心扫描仪
在研发方面,测试中心取得了一系列成果,其中研发的XD-2型自动粉末衍射仪成为国家十五科技攻关项目“X射线衍射仪”采用的产业化机型;设计生产出我国第一台采用θ-θ扫描技术的XD-3型高精度自动粉末衍射仪。如今,两款仪器均在北京普析通用仪器有限责任公司实现了产业化,并且产品XD-3获2007年北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA2007)金奖,进入国家科技部2008重点推广的国产分析仪器产品目录。目前,我们正在研发用于“古气候”研究的X射线能谱岩心扫描仪,预计今年年底结题,并有望推向市场。
北京北达燕园微构分析测试中心负责人江向峰先生与本网工作人员的合影
序号 |
产品/
产品类别 |
参数名称 |
检测标准(方法)名称及编号(含年号) |
1 |
多晶材料 |
定性相分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 |
定量相分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
晶胞参数 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
点阵畸变 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
结晶度测定 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
Rietveld分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
2 |
矿物 |
晶胞参数 |
矿物晶胞参数的测定 粉末X射线衍射法J/T 553-1991 |
全岩矿物组成分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
矿物原料分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
沉积岩物相分析 |
沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法SY/T 5163-1995 | ||
沉积岩物相分析 |
沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法SY/T 6210-1996 | ||
伊利石/蒙皂石间层矿物 |
伊利石/蒙皂石间层矿物X射线衍射鉴定方法SY/T 5983-1994(2002) | ||
α-Al2O3 |
刚玉磨料中α-Al2O3相X射线定量测定方法GB/T 14321-1993 | ||
水沉积物 |
用X射线衍射法作水沉积物中结晶化合物的识别方法ASTM D 934-1980 | ||
|
|
滑石 |
滑石粉中闪石类石棉矿物的检验(滑石物理检验方法GB/T15344-94) |
3 |
纳米材料 |
粒度分布 |
纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法GB/T 13221-2004 |
4 |
二氧化钛 |
晶型分析和晶体粒度 |
纳米二氧化钛GB/T 19591-2004 |
成分分析 |
X射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛和金红石比率的试验方法ASTM D 3720-1990 | ||
5 |
石油及相关产品 |
催化剂 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 |
石油焦 |
铝生产中使用的碳素材料.煅烧焦炭.用X-射线衍射法测定煅烧石油焦的晶体粒度ISO 20203-2005 | ||
硫 |
原油中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T 17606-1998 | ||
硫 |
石油产品硫含量测定法GB/T 17040-1997 | ||
硫 |
汽油中硫含量的测定法SH/T 0742-2004 | ||
6 |
镀层/薄膜 |
厚度测定 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 |
组成分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
羟磷灰石 |
羟磷灰石等离子喷镀层相含量的X射线衍射测定标准实施规范ASTM F 2024-2000 | ||
镍-磷合金 |
金属覆盖层,镍-磷合金镀层,X射线衍射方法JB/T 8426-96 | ||
7 |
硅酸盐/陶瓷 |
层状结晶二硅酸钠 |
层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法GB/T 19421.1-2003 |
γ-Al2O3 |
硅铝催化剂中γ-Al2O3含量测定法(X射线衍射法)SH/T 0625-1995 | ||
成分测定 |
含4A沸石洗衣粉QB 1767-93 | ||
硅砖定量相分析 |
硅砖定量相分析.X射线衍射法YB/T 172-2000 | ||
伽马铝矾土 |
用X-射线粉末衍射法对触煤剂中含硅和铝矾土的触煤剂中伽马铝矾土含量的试验方法ASTM D 4926-2006 | ||
水泥和水泥熔渣阶段比 |
用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法ASTM C 1365-2006 | ||
水泥X射线荧光分析 |
水泥X射线荧光分析通则GB/T 19140-2003 | ||
陶瓷相分析 |
高级工业陶瓷.陶瓷粉.锆晶相的测定BS DD ENV 14273-2002 | ||
相成分及结晶度 |
羟基磷灰石生物陶瓷YY 0305-1998 | ||
8 |
金属材料 |
物相分析 |
金属材料定量相分析 X射线衍射K值法YB/T 5320-2006 |
碳化物 |
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法YB/T 5336-2006 | ||
残余奥氏体 |
钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法YB/T 5338-2006 | ||
点阵常数 |
金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法YB/T 5337-2006 | ||
晶粒大小 |
用X射线衍射仪测定金属晶体中晶粒大小的方法JIS H7805-2005 | ||
织构分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
长程有序度 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 | ||
无损检测 |
贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法GB/T 18043-2000 | ||
9 |
表面分析 |
硅片表面元素污染物 |
表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定BS ISO 14706-2001 |
10 |
元素分析 |
部分参数 |
TXRF原理和定义DIN 51003 |
11 |
医药 |
结构鉴别 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 |
指纹谱分析 |
多晶体X射线衍射法通则JY/T 009-1996 |
测试中心地址:北京市海淀区中关村北大街116号.北京大学科技园孵化器2号楼2112室
联系人:江向峰先生
联系电话:010-58874029\58874028 转800
附:
北京北达燕园微构分析测试中心展位
来源于:仪器信息网
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