导读:近日,Helge Ewers博士及其同事发表论文,介绍了一种新的提高显微镜分辨率的方法——ExSTED,即将STED与膨胀显微镜法相结合的方法,获得了比光学衍射极限提升30倍的效果。
仪器信息网讯 在提高显微镜分辨率方面,两种方法结合往往比一种方法更好。近日,德国马克斯普朗克分子细胞生物学与遗传学研究所Helge Ewers博士及其同事发表论文(ACS Nano 2018, DOI:10.1021/acsnano.8b00776),文中介绍了一种新的提高显微镜分辨率的方法——ExSTED,即将受激发射损耗(STED)荧光显微术与膨胀显微镜法相结合的方法。STED显微术使用一个环形的激光束精确地控制在标记样本上的荧光团激活的位置。通常情况下,STED的分辨率可以将显微镜光学衍射极限提升10倍。膨胀显微镜法是将固定样品嵌入水凝胶中,将样品溶胀并拉伸至其原始尺寸的四倍,导致物理分辨率提高的方法。将这两种方法结合,Helge Ewers博士及其同事获得了比光学衍射极限提升30倍的效果。
ExSTED法观察细胞中微管的图像,色标表示三维空间中各种小管的深度(来自ACS Nano)
文章中使用ExSTED方法对三维细胞的微管网络进行成像。 由于扩大样品扩散荧光标记,所有样品观察区域的信号都大大减少。 为了抵消信号减少,研究人员使用多种抗体来增加添加到微管中的荧光标记的数量。他们希望通过第二次扩展样本和寻找放大荧光信号的方法来进一步提高显微镜的分辨率。
来源于:仪器信息网译
热门评论
最新资讯
新闻专题
更多推荐