导读:BCEIA2019期间,仪器信息网特别采访了梅特勒-托利多集团天平产品部门丁晓栋先生,请他为我们介绍此次梅特勒-托利多集团带来的多款天平产品。
仪器信息网讯 2019年10月23日-26日,第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019)在北京国家会议中心召开。会议期间,仪器信息网特别采访了梅特勒-托利多集团天平产品部门丁晓栋先生,请他为我们介绍此次梅特勒-托利多集团带来的多款天平产品。
此次,梅特勒-托利多集团带来了多款电子天平参展,可谓各具特色。其中在此次展会展出的新品XPR分析天平,以准确、高效、合规等特点可以满足用户合规、提高效率等多方面的要求。除了XPR系列新品电子天平,梅特勒-托利多集团此次也带来了XPR系列微量电子天平、搭载Smartpan秤盘的精密天平、MS-TS分析天平和HX系列快速水分测定仪等产品。
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来源于:仪器信息网
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