课程简介:
日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件:荧光分布成像系统(EEM VIEW)。它拥有行业首创的技术,同时分析荧光光谱和反射光谱,将样品的光谱信息可视化,同时获得更加细致的光谱信息。
亮点:
1. 在不同光源(白光和单色光)下拍摄样品图像
2. 获得样品的反射光谱和荧光光谱
3. 利用独特的光谱处理算法,获得样品的荧光图像和反射图像
4. 获得样品图像任意区域的光谱信息
课程效果:获悉样品分析新技术,拓展企业或高校研发人员的应用思维。
直播时间:3月10日 15:00-16:00
培训费用:免费
听课方式:日立微学院(提交此表单后扫码进群)
来源于:日立高新技术公司
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