第五届样品前处理大会材料样品分会场圆满闭幕

　　仪器信息网讯 4月22日，由仪器信息网举办的第五届“样品前处理”主题研讨会材料样品分论坛圆满闭幕。本次样品前处理大会盛况空前，报名人数愈千人。

　　近年来，随着科学技术的发展,生活水平的提高,样品的种类越来越多,结构越来越复杂,待测组分的含量越来越低,对检测结果的精度和准确度要求也越来越高。这些变化更加凸显出样品前处理的重要性。样品前处理在仪器分析过程中是一个即耗时又极易引起误差的环节，样品前处理的好坏直接影响仪器分析的最终结果。

　　本次材料样品分论坛邀请到了清华大学姚文清老师、中科院长春应化所的张吉东老师、苏州大学分析测试中心的徐颖老师分享材料样品表征及前处理方面的精彩内容。

清华大学 姚文清

报告题目：表面化学分析样品前处理

　　姚文清老师在报告中，从样品类别、样品的保存和传递、样品的制备与安装三个角度，结合锂电材料原位分析、奥氏体不锈钢低温冲击后的晶界偏析等案例，介绍了表面化学分析样品前处理对材料样品的影响。

中国科学院长春应化所 张吉东

　　报告题目:高分子材料的X射线衍射表征及前处理方法简介

　　张吉东老师在报告中，介绍了高分子材料及其结晶结构、高分子结晶结构的XRD表征、高分子材料XRD测试结果的解析以及前处理方法。

苏州大学分析测试中心 徐颖

报告题目：样品制备对高分子材料热分析测试的影响

　　徐颖老师在报告中，介绍了几种常见热分析技术中的样品前处理，包含DSC测试中样品的制备、热重测试中的样品制备、动态力学测试中的样品制备等。

　　报告后三位老师对参会人员的问题作了耐心的解答，获得了网友的一致好评。至此，本次样品前处理材料样品分论坛圆满闭幕。