Photonic Lattice发布PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage 新品
导读：近日，北京欧屹科技有限公司在仪器信息网发布PHL online应力双折射仪KAMAKIRI -X stage 新品
KAMAKIRI -X stage
主要特点：
STS的低配版，可升级STS 。
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。
记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
应用领域：
相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
技术参数：
项次 | 项目 | 具体参数 |
1 | 输出项目 | 相位差【nm】，轴方向【°】 |
2 | 测量波长 | 543nm（支持客制化） |
3 | 双折射测量范围 | 0-260nm（支持客制化） |
4 | 主轴方位范围 | 0-180° |
5 | 测量重复精度 | <1nm（西格玛） |
6 | 测量尺寸 | A4(标准) |
7 | 定制选项 | 可定制大载台 |
创新点：
欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
来源于：仪器信息网
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