新品发布
2020.09.03 点击0次
导读:近日,北京欧屹科技有限公司在仪器信息网发布PHL残余应力测量仪新品
WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC等高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机器,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。
主要特点:
操作简单,测量速度可以快到3秒。
采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。
测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
可测样品尺寸更大。
主要应用:
· 光学零件(镜片、薄膜、导光板)
· 透明成型品(车载透明零件、食用品容器)
· 透明树脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)
· 透明基板(玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石)
· 有机材料(球晶、FishEve)
技术参数:
项次
项目
具体参数
1
输出项目
相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】
2
测量波长
520nm、543nm、575nm
3
双折射测量范围
0-3500nm
4
测量最小分辨率
0.001nm
5
测量重复精度
<1nm(西格玛)
6
视野尺寸
33x40mm-240×320mm(标准)
7
选配镜头视野
3×4-12.9×17.2mm
8
选配功能
实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制
测量案例:
创新点:
操作简单,测量速度可以快到3秒。 采用CCD Camera,视野范围内可一次测量,测量范围广。 测量数据是二维分布图像,可以更直观的读取数据。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 可测样品尺寸更大。
PHL残余应力测量仪
来源于:仪器信息网
新产品
Photonic Lattice
折光仪(折射仪)
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