导读:2020年12月15-16日,仪器信息网将线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会。
材料表征与检测技术,是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分,是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。
2020年12月15-16日,仪器信息网(instrument.com.cn)将线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会,两天的会议将汇集9位材料表征技术领域知名专家和9位知名仪器企业资深应用专家,为大家详细讲解材料表征检测常用的近20类检测技术及应用。旨在为材料研究工作者提供广泛材料表征检测技术的“一站式”云端学习平台。
两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场,,以线上报告分享、在线网友答疑互动形式,针对材料科学常用表征及分析检测技术进行探讨。
会议时间:12月15-16日
会议形式:线上直播,免费参会
参会对象:材料学科研、材料领域研究开发、检测技术工作者等
报名方式:报名链接
https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/CLBZFX2020/
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内容摘要
专场设置 | 讲解技术 |
成分分析 | 色谱、质谱、电子探针、X射线荧光光谱(XRF)、热脱附 |
表面与界面分析 | 拉曼光谱、光电子能谱(XPS)、扫描探针显微技术(SPM) |
结构形貌分析 | 聚焦离子束-电子束双束电镜、电子背散射衍射(EBSD)、X射线衍射(XRD) |
热性能分析 | 热重分析(TGA)、差热分析、差示扫描量热(DSC)、热分析联用技术 |
报告嘉宾
成分分析专场(12月15日上午)
国家钢铁材料测试中心 高级工程师 孙晓飞
分享题目:X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用
日本电子 产品经理 胡晋生
分享题目:电子探针的分析特点和国内市场情况介绍
赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用工程师 佘晓萌
分享题目:X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用
沃特世科技(上海)有限公司 高级应用工程师 李欣蔚
分享题目:不同色谱、质谱手段应对成分解析挑战的思路分享 ---善用小工具、实现大效用
玛珂思仪器 技术支持经理 张兵
分享题目:热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍
表面与界面分析专场(12月15日下午)
中山大学 研究员 陈建
分享题目:电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究
中国科学院化学研究所 副研究员 刘芬
分享题目:XPS技术及在材料表界面分析中的应用
北京师范大学 教授级高工 吴正龙
分享题目:光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析
岛津企业管理(中国)有限公司 产品应用专家 陈强
分享题目:SPM——表面分析与界面观测
布鲁克 资深应用科学家 孙万新
分享题目:基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征
结构形貌分析专场(12月16日上午)
中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 曾毅
分享题目:电子背散射衍射标定方法研究
中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 程国峰
分享题目:Rietveld结构精修原理与应用
赛默飞世尔科技(中国)有限公司 应用工程师 居威材
分享题目:赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍
日本电子 应用工程师 席得圣
分享题目:聚焦离子束-电子束双束设备JIB-4700F介绍
热性能分析专场(12月16日下午)
中国科学技术大学 高级工程师 丁延伟
分享题目:热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析
中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员 陶冶
分享题目:薄膜材料的热物性测量
南京大学 胡文兵教授课题组成员 陈咏萱
分享题目:示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用
梅特勒-托利多 技术专家 陈成鑫
分享题目:于细微处见学问-热分析坩埚的选择和应用
来源于:仪器信息网
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