材料表征“一站式”课堂：近20类表征技术云端讲解，免费报名中

材料表征与检测技术，是关于材料的成分、结构、微观形貌与缺陷等的分析、测试技术及其有关理论基础的科学。是材料科学与工程的重要组成部分，是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。

2020年12月15-16日，仪器信息网（instrument.com.cn）将线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会，两天的会议将汇集9位材料表征技术领域知名专家和9位知名仪器企业资深应用专家，为大家详细讲解材料表征检测常用的近20类检测技术及应用。旨在为材料研究工作者提供广泛材料表征检测技术的“一站式”云端学习平台。

两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场，，以线上报告分享、在线网友答疑互动形式，针对材料科学常用表征及分析检测技术进行探讨。

会议时间：12月15-16日

会议形式：线上直播，免费参会

参会对象：材料学科研、材料领域研究开发、检测技术工作者等

报名方式：报名链接

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/CLBZFX2020/

扫码报名

内容摘要

报告嘉宾

成分分析专场（12月15日上午）

国家钢铁材料测试中心 高级工程师 孙晓飞

分享题目：X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用

日本电子 产品经理 胡晋生

分享题目：电子探针的分析特点和国内市场情况介绍

赛默飞世尔科技（中国）有限公司 应用工程师 佘晓萌

分享题目：X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用

沃特世科技（上海）有限公司 高级应用工程师 李欣蔚

分享题目：不同色谱、质谱手段应对成分解析挑战的思路分享 ---善用小工具、实现大效用

玛珂思仪器 技术支持经理 张兵

分享题目：热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍

表面与界面分析专场（12月15日下午）

中山大学 研究员 陈建

分享题目：电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究

中国科学院化学研究所 副研究员 刘芬

分享题目：XPS技术及在材料表界面分析中的应用

北京师范大学 教授级高工 吴正龙

分享题目：光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析

岛津企业管理（中国）有限公司 产品应用专家 陈强

分享题目：SPM——表面分析与界面观测

布鲁克  资深应用科学家 孙万新

分享题目：基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征

结构形貌分析专场（12月16日上午）

中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 曾毅

分享题目：电子背散射衍射标定方法研究

中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员 程国峰

分享题目：Rietveld结构精修原理与应用

赛默飞世尔科技（中国）有限公司  应用工程师 居威材

分享题目：赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍

日本电子 应用工程师 席得圣

分享题目：聚焦离子束-电子束双束设备JIB-4700F介绍

热性能分析专场（12月16日下午）

中国科学技术大学 高级工程师 丁延伟

分享题目：热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析

中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员 陶冶

分享题目：薄膜材料的热物性测量

南京大学  胡文兵教授课题组成员 陈咏萱

分享题目：示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用

梅特勒-托利多 技术专家 陈成鑫

分享题目：于细微处见学问-热分析坩埚的选择和应用