第二场研讨会 | TESCAN VEGA系列和MIRA系列扫描电镜高效分析工作流程

主题：Efficient Analytical Workflows with TESCAN's VEGA and MIRA SEMs

演讲者： Petr Klimek

Petr Klímek 是TESCAN 公司SEM产品经理，有多年的扫描电镜操作和应用经验。他在布尔诺的孟德尔大学（Mendel University）获得了材料学博士学位，有在Fraunhofer WKI和俄勒冈州立大学（Fulbright Scholar）的实习经历。

时间段1： 3月10日, 下午4:00 – 5:00 （北京时间）

时间段2：3月11日, 上午2:00 – 3:00（北京时间）

对样品感兴趣区域进行表征、分析材料组成、构建微观尺度和宏观尺度之间的关系----这些都是可以通过扫描电子显微镜微观分析解决的常见问题。

由于样品的类型、大小、形状以及各自的制备方法往往不同，因此使用扫描电镜是获取表征数据的最佳选择。最常见的扫描电镜工作流程包括三个步骤：导航、寻找样品特征点(SE/BSE)和进行元素分析(EDS)。该工作流程可以轻松高效地处理各类样品，并提供高分辨、高质量的图像----这是可以成功且高效完成材料研发的关键因素之一。

TESCAN VEGA 钨灯丝扫描电镜系列

TESCAN的VEGA系列和MIRA系列扫描电镜的设计理念就是使得用户能够通过该工作流程直观、高效地完成对扫描电镜的操作。在本次研讨会中，我们将为您展示TESCAN第四代钨灯丝扫描电镜VEGA系列和场发射扫描电镜MIRA系列的新功能----如何更直观、高效的执行常规的分析工作流程，所有用户甚至是初次接触电镜的人员，都可以通过这个工作流程获得全面的数据。

TESCAN MIRA 场发射扫描电镜系列

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