精工盈司参加食品、药品分析检测技术与仪器交流会
“食品、药品分析检测技术与仪器交流会”于2011年3月29-30日在四川成都加州酒店会议室举办。
精工盈司电子科技(上海)有限公司在会上发表了以“日本精工在食品检测领域中的研究”为主题的演讲，重点介绍了利用X射线元素分析仪检测大米中的Cd。
资讯相关背景：
本次技术交流会以“适合食品、药品企业需求的分析检测技术及仪器交流”为主题，采取专家讲座、分析仪器厂商产品应用讲座、产品展示、互动交流等多种形式。本次会议不仅为四川及成都食品、药品企业从事分析检测技术的人员创造一个与行业专家、分析仪器厂商密切交流，了解最新技术和产品发展的平台；为分析仪器厂商了解用户需求，为用户提供贴切的解决方案，促进双方深入合作创造良好的机会；同时也为四川及成都各食品、药品企业更好的完成分析检测技术改造及提升企业创新能力提供技术支持。
来源于：精工盈司电子科技（上海）有限公司
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