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ASMS 2011视频采访：访AB Sciex副总裁David A.Hicks先生

rjzhou

2011.06.13 点击0次

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　　仪器信息网讯 由美国质谱学会(ASMS)主办的第59届美国质谱学术交流会于6月5日-9日在美国丹佛市隆重召开。在会议召开同期，仪器信息网编辑对AB Sciex副总裁David A.Hicks先生进行了视频采访，David A.Hicks谈最新推出的质谱新技术和解决方案，这些新技术和解决方案能够为分析测试和科研人员带来哪些变化?David A.Hicks先生对此进行了的解答，最后他谈了对于全球质谱市场和中国市场的一些看法。

来源于：仪器信息网

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