仪器信息网“离子淌度质谱技术及应用进展”——主题约稿函

　　近几十年来，离子淌度(ion mobility spectrometry,IMS)技术快速发展，离子淌度质谱联用技术使得质谱分析能力从相对简单的质荷比拓展到复杂的三维结构， 从简单的异构体区分发展到复杂的构象解析，因此离子淌度质谱联用技术也得到了广泛应用。

　　在此背景下，仪器信息网特别建立“离子淌度质谱技术及应用进展”话题，聚焦离子淌度质谱技术的发展历史、技术进展以及最新的应用情况，以增强业界质谱专家和技术人员、相关质谱工作者之间的信息交流，同时向仪器用户提供离子淌度质谱产品介绍、技术解决方案，仪器信息网特向质谱企业及业内专家发出邀请，邀您参与投稿。

一、约稿提纲：

　　问题1:请介绍下贵公司的离子淌度质谱技术，并回顾该技术在贵司的发展历程。当前公司主推的产品和技术?(可提供公司离子淌度质谱产品线发展历程图片)

　　问题2：贵公司在离子淌度质谱方面有哪些独具优势的技术?(可提供相关专利技术介绍)

　　问题3:目前贵公司基于离子淌度质谱产品最优势的应用领域及其原因?(可另附1-2个最新的解决方案)

　　问题4:从整个行业的角度，对于目前的离子淌度质谱技术，您比较看好哪些?该技术还有哪些问题亟待解决?未来离子淌度质谱技术的发展趋势如何?

　　问题5:从整个行业的角度，您如何评价目前离子淌度质谱的应用情况?应用过程中还有哪些亟待解决的问题?未来有哪些重点应用发展方向?

　　二、回稿要求：

　　您可以根据上述问题进行稿件撰写，也可以由此展开相关话题。

　　稿件字符数不少于1200字，欢迎多提供图片，图片像素应不低于300DPI;

　　稿件无抄袭、署名排序无争议，文责自负，请勿一稿多投;

　　投稿须为Word文档，本网编辑有权对文稿进行修改，如不同意请注明。

　　回稿时间：2022年10月31日前

　　投稿邮箱：wanxin@instrument.com.cn

　　三、展示规则：

　　1、编辑会将回稿单独整理成文，通过仪器信息网全网渠道进行推送。

　　2、仪器信息网将制作“离子淌度质谱技术及应用进展”话题，所有回稿将收录至该活动话题中。