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快讯|钢研纳克：公司的场发射扫描电镜可用于芯片集成电路领域

管晨光

2023.03.31 点击0次

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导读：钢研纳克3月30日在投资者互动平台表示，公司的场发射扫描电镜可用于芯片集成电路领域，如，光刻胶缺陷分析、硅片表面残留等；电感耦合等离子体质谱可用于高纯靶材检测、高纯试剂分析等。

每经AI快讯，有投资者在投资者互动平台提问：你好！请问公司哪些仪器设备可以用于芯片集成电路领域检测？

钢研纳克（300797.SZ）3月30日在投资者互动平台表示，公司的场发射扫描电镜可用于芯片集成电路领域，如，光刻胶缺陷分析、硅片表面残留等；电感耦合等离子体质谱可用于高纯靶材检测、高纯试剂分析等。



来源于：仪器信息网

场发射扫描电镜

电感耦合等离子体

钢研纳克

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