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日本电子全自动高速纳米级分析型透射电镜问世

日本电子

2011.09.01 点击0次

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   2011年7月12日，日本电子株式会社全球同步推出一款高度自动化的透射电镜JEM-2800.它一改以往透射电镜操作复杂的缺点，可进行简单高速观察与分析。
   JEM-2800不再使用传统的荧光屏观察，通过计算机实现高分辨的TEM, STEM, 和SE 图像观察。高度自动化设计和即为人性化操作导航，使得操作透射电镜不再需要非常专业的培训。
   最适合半导体企业对于简单高速分析的实际需求。

 

来源于：日本电子株式会社(JEOL)

日本电子

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   JEM-2800不再使用传统的荧光屏观察，通过计算机实现高分辨的TEM, STEM, 和SE 图像观察。高度自动化设计和即为人性化操作导航，使得操作透射电镜不再需要非常专业的培训。
   最适合半导体企业对于简单高速分析的实际需求。