日本检验仪器制造商协会JIMA 分辨率测试图RT RC-05B/RT CT-01B

日本检验仪器制造商协会JIMA 分辨率测试图RT RC-05B/RT CT-01B

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日本检验仪器制造商协会的 JIMA 分辨率测试图 JIMA RT RC-04 是采用新的半导体光刻技术制作的显微图。

它用于校准和监控系统分辨率，并确保您的微焦点或纳米分辨率 X 射线检测系统的高质量结果。

JIMA RT RC-04 支持 0.1 微米到 10 微米之间的分辨率。这对应于 0.2 微米和 20 微米之间的焦点尺寸。

日本JIMA RT RC-04分辨率测试卡应用：

修复 X 射线系统操纵器上的分辨率测试。选择探测器、样品和试管的距离，以实现高几何放大倍率。选择所需的 X 射线参数。

将分辨率测试放置在管子的前面，使线条图案清晰可见。使用操纵器移动测试图，以便可以看到距离更短的下一行。只要清楚地解决了单独的行，就继续。焦点大小近似计算为小分辨率乘以 2。

注意：尽量减少辐射的持续时间。在手术过程中关闭 X 射线。目标前面的热量可能会损坏测试图。