德祥科技亮相2012全国电子显微学年会

小德

2012.09.27 点击0次

中国电子显微镜学会第九届全国会员代表大会暨2012年全国电子显微学年会于9月22-28日在四川省成都市召开。会议学术交流内容包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜、激光共聚焦显微镜等在材料科学、生命科学、物理学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础研究和应用研究成果；显微学相关仪器的理论、技术和实验方法的发展与改进；电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验的交流等。

德祥科技亮相2012全国电子显微学年会

大会开幕

作为国内高学术水平的大会，主要探讨了电子显微学及相关仪器技术的前沿发展，交流了基础研究与应用研究新进展。国内外*学者参加会议并作大会特邀报告和分会场特邀报告。德祥科技有限公司携独家代理的Hysitron及Protochips两大品牌的，作为展商之一参加了此次年会。

美国Hysitron® (海思创)是全球领导的纳米力学检测仪器制造商，自从1992年就开始为科研领域设计开发尖端检测技术。除了纳米压痕和微米压痕，Hysitron(海思创)仪器性能还包括摩擦和磨损，模量成像，动态力学分析，声发射监测，电子接触电阻和原位扫描电子显微镜SEM和透射电镜TEM 纳米力学检测。

Hysitron(海思创)最新产品线PI系列是深度敏感压痕，可以接到许多TEM和SEM显微镜系统中。超低噪音水平，*技术的超灵敏驱动及测量传感器，准确量化测试样品的形变，压缩，拉伸并实时视频记录。

美国Protochips致力于发展用于纳米尺度科学研究的突破性分析工具及产品的研发，运用最新的技术，实现纳米材料、化合物、过程和生物制品等在实际操作条件下的测试,提供高分辨率成像和实时的反应分析。成功的将电子显微镜由一般的成像拍摄功能转变为真正的纳米实验室，实现电镜在各种条件下原位观察样品反应过程和结果。

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