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场发射
0.21nm(点分辨率）
最高200kV
最高2,000,000
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计，除了让人耳目一新外，还对设置环境更具抗干扰能力。
主要技术指标：
1. 点分辨率：0.21nm；
2. 晶格分辨率：0.1nm;
3. STEM 分辨率：0.16nm；
4. 二次电子分辨率：0.5nm；
5. 能谱：可以安装两个超级能谱
6. 洛伦兹模式：标配
典型用户
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 南开大学 | 2015-12-17 |
| 南开大学 | 2015-12-17 |
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JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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