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技术参数：
将现代的光学测头、机械式测头及激光扫描测头集成于同一台三坐标测量机上，综合各种测头的技术特点，可完成几乎所有的几何测量任务。光学测头主要是通过高精度CCD数字摄相头，将被测物体放大后，利用最先进的图象信息处理技术，可编程控制光学照明技术，实现对工件的自动扫描寻边，表面点自动聚焦采集，自动测圆、自动对比。在对微小尺寸、薄片及刀口轮廓、易变形或不能接触的工件，工件表面图形、字符等方面的测量具有其优越性。激光扫描测头主要利用高精度的数控系统，实现在测量时对工件表面的自动跟踪，用于对任意曲面的扫描测量。
主要特点：
测量范围：500mm×500MM×300MM
允许工件重量：玻璃工作台30kg 花岗岩工作台250kg
长度测量系统：Renishaw精密光栅尺
探测系统：Renishaw接触式测头系统 CCD非接触式探测系统 激光扫描探测系统（选项） 光纤测头（选项）
控制系统：PC总线DSP0三轴矢量控制系统
驱动系统：直流伺服DC-Servo
电源：220V±5%\50/60Hz\1500W
主机重量：2500kg
外形尺寸：1400mm×1100mm×2200mm
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