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薄膜的光学特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射测量系统可以用来进行10nm~250µm的膜厚分析测量，对单层膜的分辨率为0.1nm。根据测量软件的不同，可以分析单层或多层膜厚。
产品特点
1、可分析单层或多层薄膜
2、分辨率达0.1nm
3、适合于在线监测
操作理论
最常用的两种测量薄膜的特性的方法为光学反射和透射测量、椭圆光度法测量。NanoCalc利用反射原理进行膜厚测量。
查找n和k值
可以进行多达三层的薄膜测量，薄膜和基体测量可以是金属、电介质、无定形材料或硅晶等。NanoCalc软件包含了大多数材料的n和k值数据库，用户也可以自己添加和编辑。
应用
NanoCalc薄膜反射材料系统适合于在线膜厚和去除率测量，包括氧化层、中氮化硅薄膜、感光胶片及其它类型的薄膜。NanoCalc也可测量在钢、铝、铜、陶瓷、塑料等物质上的抗反射涂层、抗磨涂层等。
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NanoCalc薄膜反射测量系统信息由杭州谱镭光电技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于NanoCalc薄膜反射测量系统报价、型号、参数等信息，杭州谱镭光电客服电话：400-860-5168转2255，欢迎来电或留言咨询。
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