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PhaseView BeamWave 多功能激光光束分析仪
BeamWave 多功能激光光束分析仪
♦ 高分辨率CCD光束分析仪
♦ 即时光束传输与波阵面分析
♦ 单次对焦 M 2 测量
经济智能的激光光束分析解决方案
利用最新进展的波阵面传感，紧凑和轻便 BeamWave® 提供所有关键光束分析参数，
无需其它复杂、昂贵的设备。
无需其它额外配件，BeamWave® 可执行激光强度分布，波阵面参数和光束测量传播
参数的测量。
高分辨率的光束分析
强度分布 ♦ XY剖面 ♦ 形心 ♦ 发散角 ♦ 非对称
BeamWave 采用CCD脉冲和连续激光束探查器，可提供准确的高动态和高分辨率的强
度分析。
实时波阵面分析
Zernike 分析 ♦ 低阶和高阶像差 ♦ 散光
BeamWave 提供高分辨率波阵面的数据 ，这些有用的参数使得可以对激光束进行多
角度分析。
光束传播参数测量
单次对焦 M2 ♦ 任意选择平面的强度分布 ♦ 发散角 ♦ 瑞利范围
由于它能同时进行相位和强度衡量，BeamWave 提供光束传播分析，从而提供了一
个激光束沿的传播轴行为的即时画面。
典 型 测 量 设 置
单台仪器可测量激光束所有参数
在同一设备进行光束传输参数，相对功率密度，波阵面，并可在任何平面上的强度
进行测量。
♦ 采用步进电机或移动平台自动测量
♦ 无运动设备的维修费用
♦ 使用仪器时无机械调整
♦ 无需复杂笨重测量系统，即可测量所有参数
高分辨率的强度和波阵面测量
CCD芯片上直接采集强度，由软件重建波阵面。
♦ 无需两个仪器（光束轮廓分分析仪和波前传感器）可获得同一测量效果
♦ 在任意一个平面可对光束进行详细分析
对连续和脉冲激光进行单次聚焦 M 2 测量
M 2对连续和脉冲激光束发散角，准直和其他传播参数是由软件计算的。
♦ 无需要额外的仪器，节省了时间和成本
♦ 量具有高度可重复性
♦ 可以对未对齐的激光进行测量
整个光束焦点区域周围广泛的即时测量
利用软件对光束传播同时进行强度和波阵面采集计算。
♦ 可以节省激光束调整的时间
♦ 可对激光束预测分析
GUI 软件兼容 XP, Vista and Windows 7, 展示出一个非常快速和简
单的强度及波阵面采集方式，并提供全面光束分析工具，包括强度分布和
光束传输参数。
采集 & 显示
‐ 自动校准 & 采集
‐ 即时显示波阵面的二维和三维强度, PSF
‐ 单次和连续采集
分 析
光束强度参数:
‐ 最大强度级别
‐ 椭圆的光束光点
‐ 主要和次要的光束点、坐标轴维数、光束传播
参 数:
‐ M 2 X 和Y 方向的参数
‐ 4б在X和Y的腰围方向
‐ 摄像机的位置和腰部平面之间的距离
‐ 瑞利范围
‐ 光束的发散角
‐ PSF, 斯特列尔比
‐ 实时 Zernike 显示和分析
‐ 波阵面和强度分析
测试报告
‐ 波阵面和Zernike数据
‐ 报告编辑
‐ 可兼容的HTML演示
技术参数
| 最大输入光束的直径(1/e 2), mm | 3.2 |
| 平面的测量 | 1 |
| 光束强度测量 | 连续和 脉冲激光在 XY 对任意 Z |
| 波长范围(nm) | 350 ‐ 1100 |
| 测量 M 2 | 连续和脉冲激光 |
| M 2 范围 | 1 to >50 |
| M 2 精度 | +/‐ 5% |
| M 2 重复性 | < 2% |
| 发散角/准直测量的要求 | 无 |
| 是否可对相位/波阵面的测量? | 是 |
| 波阵面和强度在XY分辨率, um | 6.45 |
| 波阵面测量点 | 500 x 500 像素阵列 |
| 波阵面灵敏度 (λ), rms | 0.01 |
| 波阵面精度 (λ), rms | 0.02 |
| 波阵面动态范围 (λ) | 1 500 |
| 测量时间 | 实时 |
| 计算机接口 | USB 2.0 |
| 重量, kg | 0.350 |
| 尺寸, mm | 41 x 55 x 80 |
| 用户单位 | 采购时间 |
|---|---|
| 丰城市八达电子科技有限公司 | 2013-12-26 |
| 深圳晶宇 | 2016-09-19 |
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