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仪器简介:
• 高分辨衍射系统，角度精度可达 0.00001°
• 高分辨衍射系统，角度精度可达 0.00001°
• 可进行常规晶相表征、微晶尺寸/晶格及结晶度计算、残余奥氏体定量、晶体结构分析之外更可进行 残余应力分析，薄膜厚度测试(1到500nm，准确度优于1%），变温实验，相变，取向研究、密度（准确度优于± 0.03 g/cm3），表界面粗糙度（0~5nm，准确度优于± 0.1nm)
• 光路可进行Bragg-Brentano, 聚焦及平行光束转换
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