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热电性能测定装置

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品牌

暂无

型号

ZEM系列

产地

亚洲日本

应用领域

暂无
该产品已下架
热电性能测定装置ZEM系列
热电材料的Seebeck系数/电热导率的测定
本装置可对热电材料的电导率(Seebeck系数)和电热导率。同时进 行测量。操作简单温度范 
围为80℃~1000℃。 
用途:
半导体材料,陶瓷材料,金属材料及其他材料的热电性能测定。 
特点:
由高精度,高灵敏度温度可 控的红外线金面反射炉和控制温度用的微型加热源构成。
试 样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。 
技术指标:
温度范围 ① -80 ~ 100 ℃ ② 50 ~800 ℃
③50 ~ 1000 ℃
温度设定范围 温度段及温差段   最大125段
试样尺寸 φ2~4mm, 角×5~22mm
测定气氛 低 压He气 体中  (大 气中)
 
 

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