半导体激光器产品及设备
样本下载Nanofoot LD半导体激光器LFT老化系统
1. LFT 老化系统介绍
LFT半导体激光器老化系统是芬兰Nanofoot 公司专门为 LD 半导体激光器进行老化和寿命测试而生产制造,以提高 LD 激光器的质量和制造工艺。
该系统可工作于波长范围为800nm-16000nm,其采用专业 LFT 老化软件对 LD激光器(封装和未封装)的驱动电流、工作温度、输出电压和输出功率进行精确的控制与测量,系统可共享复用多测试仪器/设备,并提供多种不同类型的夹具和电流探针可同时对多路LD 激光器测试单元(封装和未封装)实施驱动,并保证各驱动电流相互独立互不影响;在测试过程中系统采用水冷和 TEC 等多种制冷方式为LD 激光器提供良好的散热机制和温度控制。
2. 系统结构
系统简介:
系统可同时实时测试 50 以上个 LD 激光器,可通过控制软件控制 LD 激光器(封装/未封装)控制器。通过软件设置对单个或一组(两个)LDD 激光器提供电流驱动,同时将监测到的 LD 激光器电压、温度、和功率输出至主机控制显示界面。通过垂直自动电位移系统,LFT 老化系统可复用光功率测试设备-积分球,并通过可外接分光光度计(sppectrometerr)或光谱仪(OSA)对 LD 激光器的输出光谱进行实时测量。
3.系统功能与可选组件
| 标准LFT老化系统配置 | 客户定制(可选) |
工作波长 | 800nm-1600nm | - |
激光器测试单元数 | 16pcs | 1-50pcs |
激光器夹具 | I型激光器装载台(封装):提供两个I型激光器加载盘,每个I型装载盘可安装16pcs的TO-46型激光器,加载盘固定与铝制衬底上,以方便系统对测试激光器进行电流、电压和温度的控制。 | 另可提供其它封装类型的夹具,如TO-can、CS、COS、蝶形激光器等封装形式 |
II型激光器装载台(未封装LD芯片):提供一个II型激光器装载台,每个II型装载台可安装含16个激光器单元的激光棒(未解离),含16针的电流探针卡、探针微移动平台和激光芯片预安装标尺。 | 另可提供含32,48,64单元的激光棒的II型装载台 | |
激光驱动电流 | 标准电流注入方式(封装):0-200 mA,提供电流过载保护 | - |
探针式电流注入(未封装LD芯片):0-200 mA,提供电流过载保护 | - | |
激光电压输出 | LD激光器电压输出,精度16bit |
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激光电流输出 | LD激光器电压输出,精度16bit |
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激光功率输出 | 积分球&光电探测器,精度24bit,功率5mw-40mw |
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温度控制 | 水冷方式 | TEC方式 |
温度检测 | 激光器(封装): | ●单个LD激光器温度测量(单个温度传感器) |
激光器(未封装LD芯片):不能测试未封装LD芯片本身温度,只能测试LD芯片衬底温度。 |
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检测设备 | ●采用积分球对激光器光功率进行测量, | ●提供分光光度计 |
软件功能 | 提供实时互动友好显示界面 | 采用SQL数据库对结果数据存储 |
机柜 | 立式铝合金机柜 |
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4.系统参数指标
工作波长 | 800nm-1600nm (可调) |
驱动电流 | 0-200mA(可调), 精度16bit |
驱动电压 | 0-2V(可调), 精度 16bit |
输出功率(单个激光器) | 5-40mw |
温度控制 | 10°C ~150°C(可调) 温度精确度:+/- 0.5 °C 单个激光单元制冷功率:300mw/单元 |
LD芯片电流注入探针尺寸 | 250um-350um(可选更小) |
工作电压 | 210V-230V/ 60 Hz |
5.备注
Figure.3 不同激光器封装结构的装载台
Figure 4. 激光器(封装)装载台制冷板 (1),制冷板 (2). CoS-lasers封装类型激光器.
系统软件控制界面
Figure.5 激光器驱动工作参数动态设置
Figure.6 通用激光器设置和故障监控限制
Figure.7 激光器功率输出、LIV、波长曲线
用户单位 | 采购时间 |
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北京信立德 | 2014-04-01 |
厦门骏特 | 2015-09-28 |
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