NanoIR平台是由美国Anasys仪器公司所推出的一款基于AFM探针的检测工具,它可以在纳米尺度下揭示试样的化学组成。这项实验室解决方案集成了纳米红外光谱和原子力显微镜的核心技术,使获得的红外光谱在空间分辨率上大大超越光学衍射极限。该技术荣获2010年度美国R&D100大奖。
除了可以揭示化学组成,nanoIR系统还可以对试样的局部形貌,机械性能,热学性能进行高分辨率表征。该系统潜在的应用范围横跨聚合物科学,材料科学,生命科学以及对结构和性能关系深入研究的相关领域。
NanoIR
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主要技术参数
多功能检测
仪器功能
NanoIR软件
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NanoIR平台集成了联系可调红外光源和AFM检测模块,能够综合形貌分析和光谱测量对试样进行表征
如上图所示,试样固定在硒化锌棱镜上。用户可以通过视频显微镜快速发现其感兴趣的特征点。通过检测局部红外吸收,AFM探针针尖能够对试样形貌进行高分辨率表征。
如上图所示,旋起AFM测量头,即可轻松放入试样。试样更换方便,无需特殊工具。
主要技术参数
频谱范围 |
900 cm-1~2000cm-1和2235 cm-1~3600cm-1 |
光谱分辨率 |
~4 cm-1 |
最大成像尺寸 |
80μm×80μm |
单幅光谱获取时间 |
~1分钟/每幅(或更少) |
参数可能会有所变更
多功能检测
NanoIR系统可以为您提供一个包含了表面形貌,分子光谱,机械性能和热学性能在内的全面的扫描成像分析。高分辨率形貌分析由AFM测试得到,而局部化学表征则由增强光热诱导共振(PTIR)技术的红外光谱技术完成。PTIR技术也支持接触共振频率检测同时对可各种材料的成像分析。
(A)EAA和尼龙多层聚合物的AFM图像。(B)界面处的线性光谱扫描结果,显示了CH和NH的特征吸收峰。(C)化学组成和机械性能的同时表征,绿色曲线显示了在2900cm
-1到2950cm
-1之间CH键吸收强度,而蓝色曲线则显示了界面处机械刚度的相对变化。(D)纳米热分析模块测试(nanoTA)结果表明尼龙和EAA存在不同的软化温度。
仪器功能
检测功能 |
功用 |
光热诱导共振(PTIR) |
利用纳米红外光谱表征化学组分 |
接触共振 |
同时进行机械性能的扫描成像 |
AFM |
获取高分辨率表面形貌 |
纳米热分析 |
检测局部热转变温度 |
PET和尼龙复合材料的多功能检测结果,包括AFM形貌测试,化学光谱信息,化学扫描成像和纳米热分析等。
NanoIR软件
美国Anasys仪器公司的nanoIR软件能够很容易获取纳米尺度下吸收光谱。首先,选定试样的一个区域,采集AFM图像,然后点击您感兴趣的获取红外光谱的位置。该软件能够自动记录你所点击的位置,从而让空间形貌和光谱信息之间的联系变得非常容易。同时,光谱也很容易被输送到第三方光谱分析软件。