飞行时间
产品介绍:
聚焦离子束激光离子化纳米质谱成像系统 (FILMER)
-纳米尺寸表面质谱成像
FILMER基于二次离子质谱技术,集成了聚焦离子束,扫描电子显微镜和激光器。
功能
二次离子质谱
原理
用聚焦离子束溅射试样表面,收集和分析排出的二次离子;
数据采集
这些二次离子的质量/电荷比及质谱可确定元素,同位素,或分子组成;
激光二次中性质谱(Laser-SNMS)
原理
用聚焦离子束溅射试样表面,使用激光共振电离大多数溅射中性原子;
数据采集
与二次离子质谱相同
聚焦离子束精细加工
可以通过连续Ga聚焦离子束连续溅射样品表面除去想要除去的部分;
二次离子质谱及扫描电子显微镜观测
可实现二次离子质谱及扫描电子显微镜两种观测方式;
主要特点:
1. 高空间分辨率
横向分辨率 < 40nm
质谱分辨率 m/Δm >7000@m/z=56
2. 可原位加工和分析,避免暴露于空气中
SEM小损伤观测,可定位值FIB相同位置;
可分析颗粒表面及横截面;
3. 可实现激光二次中性质谱
与传统SIMS相比可显著改善信号灵敏度;
高灵敏度的有机化合物分析;
技术参数:
性能 原始束流 30kV Ga+ 横向分辨率 40 nm 测量范围 500μm ~ 500nm 质谱分析 飞行时间(TOF) 质谱分辨率(m/z = 56)m/Δm = 7000 激光器 飞秒激光器 激光波长 1030nm, 515nm, 355 nm, 257nm 激光能量 10W / 1mJ (1030nm) 扫描电子显微镜 30kV ~ 5 kV 扫描电子显微镜横向分辨率 <30nm 样品尺寸 X25px×Y25px×Z3mm 机械操作 5轴 可选 电荷中和装置, 转移容器,等 应用案例: |
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