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波谱仪WDS
超灵敏平行光WDS波谱仪
优异的性能，紧凑的尺寸：崭新的XSense。Bruker公司的高*度波长色散X射线谱仪将*新的探测器技术纳入其中并且同时提供许多难以匹敌的优势：
的自动光学*定位系统
正比计数器配备的气体流量和压强控制系统
无畸变非磁性光学装置
完全马达驱动的高级运动机构
与EDS无缝集成的软件系统
易于设置－即刻开始测量
本系统具有许多基于人性化设计的自动化特征使得XSense易于操作从而将用户从单调且耗时的仪器调节工作中解放出来：无需人工干预自动实现*的光学*对准、自动选择合适的分析晶体、正比计数器气体流量和探测器设置等等。
真正重要的高分辨率
基于本系统多达六个的分析（ 衍射）晶体，XSense覆盖对于高分辨X射线微区分析至关重要的100eV至3.6keV能量分析范围。而且，各自均具有部分重叠能量探测范围的大量晶体为每种应用均可提供*佳选择。
通过高级运动机构和光学系统获得限灵敏度
XSense的高级运动机构维持衍射晶体相对于入射光束在完整布拉格角范围上的*定位，得到无限制的*性能。
光学系统-包括晶体和探测器之间的次级光学装置-将分辨率、峰背比和灵敏度推向*。非磁性光学装置避免了光束偏移和图像畸变。
自动光学*定位系统确保在任何情况下*佳的测量条件
谱仪的光轴相对于当前样品点的*对准对于平行光谱仪来说是至关重要的。XSense内部超3轴马达驱动台确保平行光光学装置达到亚微米级的快速且稳定的移动和定位。轻触
按键，系统即可自动完成*的光学*定位和对准。
利用可控压强正比计数器实现可靠采集
Bruker的气体和计数器管理系统主动控制计数器的内部气体压强，并且自动进行全部的高压和分光器设置。该功能在大大简化设备操作并且使气体消耗*小化的同时，确保计数器在任何环境条件下均维持在恒定的*佳工作状态，从而提高分析结果的重现性和系统的可靠性。
轻松实现谱仪设置和监控的触控面板
XSense配备的触摸面板可以直接控制和监测谱仪状态。它可以直接在系统上检查互锁功能，并且进行像门阀闭合和光学装置回退等基本操作。
通过ESPRIT分析软件与EDS无缝集成
使用同一软件界面即可对相同的样品点进行EDS和WDS测量。轻点鼠标，轻松实现测量模式的切换并可将两种分析方法的结果组合在一起。
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