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F20膜厚测量仪

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品牌

NANOVEA

型号

F20

产地

美洲美国

应用领域

暂无
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产品简介
 F20是我们的通用台式仪器。它们在全世界被用于几千种用途。厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样,F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。
不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们最为普遍的产品。较短的波长(例如,F20-UV)一般用于测量较薄的薄膜,而较长的波长(例如,F20-NIR)则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

产品特性:
1)操作简单、使用方便;
2)测量快速、准确;
3)体积小、重量轻;
4)价格便宜
3,产品应用:
1)半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;
2)LCD行业:液晶盒间隙厚度、 Polyimides;
3)光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片


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