我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统(OLED光谱分析仪)、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统,为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。
主要测试功能:
OLED效率测量/EQE测量,Lm/W 和 Cd/A;
发射角度测量;
光谱&颜色测量@发射角;
CIE xyY测量;
视角测量;
IVL(电流—电压—亮度)测量;
PL光致发光和EL电致发光测量;
极化测量;
主要技术规格:
角度范围:-85°~+85°;
光谱范围:360nm~880nm,分辨率1.2nm;
1年
是
有
1次免费培训
3月1次
免费维修免费更换部件
2小时响应
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