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原子力显微镜
进口
材料型
Z≤0.03(typical) 0.05(maximum)
直径≤100mm, 厚度≤20mm
13mm*13mm
SmartScan, SmartAnalysis
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Park NX7 原子力显微镜 实惠智能 理想选择 |
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灵活智能的研究级AFM，实惠来袭！
Park NX7 配有Park原子力显微镜前沿技术，其设计与新型显微镜一样彰显细节品质，可以有效助您取得精准的研究成果。现在价格实惠，是您预算合理下的理想选择。
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通过消除扫描器串扰进行准确的XY扫描
√ 独立闭环XY和Z柔性扫描器
√ 正交XY扫描
√ 样品表面形貌信息测量精准，无需软件处理
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全面专业的原子力显微镜解决方案
√ 涵盖多种扫描探针显微镜的扫描模式
√ 更智能的NX电子控制器默认启用高级纳米机械测量模式
√ 拥有业界前沿的兼容性和可升级性
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人性化设计的软件和硬件功能
√ 方便样品或换针的开放式使用
√ 预对准的探针夹设计，可轻易直观的进行SLD光校准
√ Park SmartScanTM - 原子力显微镜操作软件可以帮助初次使用用户和专业用户进行专业的纳米级研究。
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无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描
Park的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点，还能够在不同扫描位置，扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交XY轴扫描。即使再平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等背景曲率。因此Park能不惧艰难挑战，为您在研究中提供高精度的纳米测量。
无耦合关系的XY和Z扫描器 Park的核心技术在于专有的扫描器架构。基于独立XY扫描器和Z扫描器设计的挠曲结构，能让您轻松获得高精度纳米级分辨率数据。 |  |
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行业引领的低噪声Z探测器
Park AFM 配备了低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,因而达到了样品形貌成像精准，没有边沿过冲无需校准的高效率。Park NX系列不仅为您提供高精准的数据，更为您大大节省了时间成本。
 | 由低噪声Z探测器测量准确的样品形貌 √ 利用低噪声Z探测器信号进行形貌成像 √ 有高宽带，Z探测器低噪声只有0.02 nm √ 边缘位置无前沿或后沿过冲现象 √ 只需在原厂校准一次 样品: 1.2 μm标准台阶高度 (9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines) |
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True Non-Contact™模式可延长探针寿命、保护样品和精准测量
True Non-Contact™ 模式是Park原子力显微镜系统创新的扫描模式，通过在扫描过程中防止针尖和样品损坏，从而产生高分辨率和准确的数据。
接触模式下，针尖在扫描过程中持续接触样品；轻敲模式下，针尖周期性地接触样品；而在非接触模式下针尖不会接触样品。因此，使用非接触模式具有几大关键优势。由于针尖锐度得以保持，在整个成像过程中会以高分辨率进行扫描。非接触模式下由于针尖和样品表面不会直接接触，从而避免损坏软样品。
更快速的Z轴伺服使得真正的非接触式原子力显微镜有更精准的反馈 √ 减少针尖磨损 → 长时间高分辨率扫描 √ 无损式探针-样品接触 → 较大地减少样品受损度 √ 可满足各种条件下，对各种样品都能够进行非接触式扫描
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此外，非接触模式可以感知探针与样品原子之间的作用力，甚至可以检测到探针接近样品时产生的横向力。因此，在非接触模式下使用的探针可以有效避免撞到样品表面时突然出现的高层结构。而接触模式和轻敲模式只能进行探针底端检测，很容易受到这种撞击伤害。
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专业的 AFM 解决方案
行业引领——支持多种SPM模式和选项
如今，研究人员需要在不同的测量条件和样品环境下表征广泛的物理特性。 Park Systems能为您提供多种 SPM 模式、全面的 AFM 选项以及业界前沿的选项兼容性和可升级性，支持高级样品表征。
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Park NX7 支持多种 SPM 模式
形貌成像 非接触模式 接触模式 轻巧模式 介电/压电特性 压电力显微镜(PFM) 高压PFM Piezoresponse Spectroscopy 磁学特性 磁力显微镜 (MFM) | 电学特性 导电原子力显微镜 (C-AFM) 电流-电压分光镜 开尔文探针力显微镜 (KPFM) 高压KPFM 扫描电容显微镜 (SCM) 扫描扩展电阻显微镜 (SSRM) 扫描隧道显微镜(STM) 光电流映射 (PCM) 静电力显微镜 (EFM) | 力学特性 力调制显微镜 (FMM) 纳米压痕 纳米刻蚀 高压纳米刻蚀 纳米操纵 横向力显微镜 (LFM) 力距(F/d)光谱 力容积成像 化学特性 具有功能化探针的化学力显微镜 电化学显微镜 (EC-AFM) |
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Park NX7 参数
| Scanner | Z扫描器 柔性引导高推动力扫描器 Z扫描范围: 15 μm (30 μm可选) | XY扫描器 闭环控制式单模块柔性XY扫描器 扫描范围: 50 µm × 50 µm (可选 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm) |
| 位移台 | Z位移台 Z位移台行程范围: 26 mm | XY位移台 XY位移台行程范围: 13 mm X 13 mm |
| 样品架 | 样品大小 : up to 50 mm 样品厚度: up to 20 mm | |
| 软件 | SmartScanTM AFM系统控制和数据采集软件 智能模式的快速设置和简易成像 手动模式的高级使用和更精密的扫描控制 | SmartAnalysisTM AFM数据分析软件 独立设计—可以安装和分析AFM以外的数据 能够生成采集数据的3D绘制 |
| 用户单位 | 采购时间 |
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| 西安交通大学 | 2016-03-29 |
| 上海交通大学 | 2016-08-11 |
| 陕西科技大学 | 2017-06-14 |
| 东北电力大学 | 2017-08-11 |
| 湖南大学 | 2017-10-11 |
| 江西师范大学 | 2016-03-25 |
| 复旦大学（化学系） | 2015-12-24 |
| 中国科技大学 | 2015-12-18 |
| 华中科技大学（化学学院） | 2015-09-07 |
1年
是
有
3-5人次系统操作/维护/保养培训
不少于一次免费现场保养维护
免费维修更换零件
24小时响应，48解决相关问题或者具体维修解决方案
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