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| 商品描述：荷兰DENSsolutions公司提供技术先进的透射电镜（TEM）样品管理解决方案，为客户提供快捷、可靠的纳米尺度原位显微工具。其应用领域包含：纳米材料原位加热研究、碳基纳米材料无损成像、金属结构、催化剂、陶瓷原位加热研究等。产品包括TEM样品加热系统和MEMS样品加热芯片。 |
产品特点：
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技术指标：
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产品系列：
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MEMS样品加热芯片
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| 配置 完整的产品包主要包括：
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| 应用案例 案例1 高温下纳米颗粒的高分辨率成像 使用TEM观察7nm的单个金纳米颗粒在450℃下的高分辨像，如右图所示。实验设备：DENSsolutions SH30单倾斜样品加热系统、FEI Titan像差矫正型TEM。（N.P. Young, M.A. van Huis,H.W. Zandbergen, H.Xu, A.I. Kirkland,Ultramicroscopy, 2010,110(5), 506-516） |  |
| 案例2 无损伤的碳基软物质成像： DENSsolutions SH30单倾斜样品加热系统为碳纳米管、石墨烯等碳基材料无损伤成像提供了可能。右图中为单层石墨烯的STEM图像，由于石墨烯在高温下存在自修复效应，800℃下对石墨烯进行电子显微观察能够完全避免电子束对石墨烯造成的损伤。 |  |
| 案例3 获取Cu3Au有序-无序相的高分辨图像 利用DENSsolutions DH30样品加热系统能够直接研究材料的高温结构，为理解不同温度下的材料性质提供了机会。Cu3Au从有序相到无序相的转变温度为390℃，利用DH30和FEI Titan，获取Cu3Au有序相（40℃）和无序相（400℃）的图像（沿110晶带轴）如右图所示。 |  |
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