飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准金相样品杯
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飞纳台式扫描电镜 Phenom 标准金相样品杯的主体设计与标准样品杯相同，但金相样品杯是专门用来装载镶嵌样品的。是冶金类样品和样品杯插件的首选方案。金相杯可以选配两种插件，从而更快速制备样品。
独特的样品杯理念 包埋、切割和抛光是显微成像中制备平整样品的一种常用技术。 通常这种样品要包埋在树脂中，并且有几种标准的尺寸。 使用 Phenom XL 电镜上的标准样品杯，通常支持拓展三种金 相样品插件。这意味着该样品杯可以容纳大多数尺寸的镶嵌样 品。 金相样品插件具备众多独特优点。样品固定方法简单直接，所有 样品具有相同工作距离，批量能谱分析非常方便。
在做能谱定量分析时，镶嵌样品的表面要尽可能水平。然而，样 品底面却往往是十分粗糙。若没有这些插件，装载这种样品时， 上表面不在同一水平面上，这势必会影响能谱定量结果。 利用这些插件，样品底面不会接触到样品杯表面。在插件内部， 镶嵌样品的上表面可以精确的固定在同一高度的平面上，可以同 时获得高分辨图像和能谱结果。 金相样品插件有三种型号，能装载 25 mm (1英寸)，32 mm (1.25英寸) 和 40 mm (1.5英寸) 标准尺寸样品。含有内六角扳 手用于样品固定。
最大样品尺寸：直径 32 mm；高 30 mm
金相样品杯
金相试样
放样
1年
是
有
1年2个名额
无
质保期内，除自然灾害和人为因素损坏外，全部免费维修
货物出现故障后，供货方8小时给出初步反馈。
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