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Phenom Particle Metric 颗粒测试
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片，并生成报告。借助该软件，用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数，颗粒软件全自动化的测量，可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。
借助颗粒系统软件，用户可随时获得数据。因此，它加快了分析速度，并提高了产品质量。
联机或脱机分析
收集颗粒的属性数据，例如当量直径、圆度、长轴短轴比、凸包度等
借助超大视野拼图软件，可获得大量颗粒的分析数据
先进的识别算法，用户自由选择默认设置或高级设置
售后服务
1年
是
有
1年2个名额
无
质保期内，除自然灾害和人为因素损坏外，全部免费维修
货物出现故障后，供货方8小时给出初步反馈。
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Phenom Particle Metric 颗粒测试信息由复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供，如您想了解更多关于Phenom Particle Metric 颗粒测试报价、型号、参数等信息，复纳科学仪器客服电话：400-812-0959，欢迎来电或留言咨询。
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