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热电性能分析系统 ZEM-3
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技术特点：
温度检测采用R型热电偶
标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)
试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
ZEM-L | ZEM-LS | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 | |
测量温度 | -80℃-100℃ | -100℃-500℃ | RT-800℃ | RT-1000℃ |
控温精度 | ±0.5K | |||
测量原理 | 塞贝克系数：静态直流电； 电阻系数：四端法 | |||
测量范围 | 塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K； 电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm | |||
分辨率 | 塞贝克系数：10nV/K； 电阻系数： 10nOhm | |||
测量精度 | 塞贝克系数：＜±７％； 电阻系数：＜±10％ | |||
样品尺寸 | 直径或正方形：2 to 4 mm2 ×6 to 23mm长 | |||
热电偶导距 | 4,6,8 mm （或定制） | |||
电 流 | 0 to 160 mA | |||
气 氛 | 减压He | |||
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